梅特勒托利多XS3DU分析天平量程及可讀性:0~800mg/1ug,0~3.1g/10ug,校準(zhǔn)方式:內(nèi)部校準(zhǔn)。
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梅特勒XS3DU分析天平產(chǎn)品介紹:
梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有卓越的稱量性能,完全滿足基礎(chǔ)稱量應(yīng)用:在800 mg的精細(xì)量程范圍內(nèi)提供1 μg的可讀性。具有同類產(chǎn)品中最佳的重復(fù)性可低至0.8 μg,是獲得理想的稱量可靠性的關(guān)鍵,避免不必要的重復(fù)測(cè)試,顯著地降低了樣品和時(shí)間的浪費(fèi)。
梅特勒-托利多XS3DU微量天平專為提高稱量效率和可靠性而設(shè)計(jì)。
梅特勒XS3DU分析天平技術(shù)參數(shù):
極限值 | XS3DU 雙量程 |
最大稱量值 | 3.1 g |
可讀性 | 0.01 mg |
最大稱量值 | 0.8 g |
可讀性 | 0.001 mg |
重復(fù)性(sd) - 加載處 | 0.006 mg |
- 低加載(加載處) | 0.005 mg (0.2 g) |
重復(fù)性(sd) - 加載處 | 0.001 mg |
- 低加載(加載處) | 0.0008 mg (0.2 g) |
線性誤差 | 0.004 mg |
典型值 4) | |
典型重復(fù)性(sd) | 0.0005 mg +1.2 x (10 –7 )•R_gr |
典型微分非線性(sd) | √2x(10 -12 )g·R_nt |
典型靈敏度偏移(sd) 2) | 3 x (10 –6 )•R_nt |
典型最小稱量值* (@ U=1 %, 2 sd) | 0.1 mg+2.4 x (10 –6 )•R_gr |
典型穩(wěn)定時(shí)間 | < 6 sec |
穩(wěn)定時(shí)間 | < 10 sec |
1) 根據(jù)OIML R76
2) 在10到30°C的溫度范圍內(nèi)
3) 第一次安裝,使用proFACT校準(zhǔn),靈敏度穩(wěn)定性
4) 能用于估計(jì)不確定度 sd=標(biāo)準(zhǔn)偏差 Rgr=毛重 Rnt=凈重(樣品質(zhì)量) a=年
* 重復(fù)性和最小稱量值可以通過以下措施得以改進(jìn):- 選擇適當(dāng)?shù)姆Q量參數(shù)設(shè)置,- 選擇合適的天平放置位置,- 使用較小的去皮容器。
梅特勒XS3DU分析天平描述:
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 內(nèi)置稱量應(yīng)用程序 | ||||||||||||||
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梅特勒XS3DU分析天平特征和利益:
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梅特勒-托利多電子天平參數(shù)簡(jiǎn)介及最新市場(chǎng)報(bào)價(jià)單查看 >>>
電子天平網(wǎng)天平精度分類: | 1g/一克精度電子天平 | 0.1g/十分之一克電子天平 | 密度天平 |
0.01g/百分之一克電子天平 | 0.001g/1mg/千分之一克電子天平 | 0.1mg/萬(wàn)分之一克電子天平 | 機(jī)械天平 |
0.01mg/十萬(wàn)分之一克電子天平 | 0.001mg,1μg/百萬(wàn)分之一克電子天平 | 靜水力學(xué)天平 扭力天平 | 工業(yè)臺(tái)稱 |
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